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柔性材料电性能分析数字源表
柔性电子材料“动态”测试难点 柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲，在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都会
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2023-12-21 |
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半导体特性曲线分析仪CV+IV测试仪
产品特点： 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03%精度； 内置标准器件测试程序，直接调用测试简
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2023-12-19 |
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数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数
传统实验教学存在的问题教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；教学专用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积
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2023-12-18 |
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半导体参数CV测试仪+CV测试系统
半导体参数CV测试仪+CV测试系统概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化
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2023-12-15 |
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功率半导体器件CV测试仪
概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压
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2023-12-12 |
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半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速
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2023-12-05 |
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半导体参数分析仪1200V/100A
概述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速
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2023-11-29 |
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igbt测试设备igbt模块测试系统
普赛斯igbt测试设备igbt模块测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流
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2023-11-17 |
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